GCESPI-B 電子(zǐ)散斑幹涉測量實驗系統
一(yī)、産品簡介
電子(zǐ)散斑幹涉( ESPI)技術是一(yī)種非接觸式全場實時測量技術 ,因其通用性強、 測量精度高(gāo)、 頻率範圍寬及測量簡便等優點 ,近年(nián)來獲得了快速發展。電子(zǐ)散斑幹涉無損檢測技術可(kě)以完成位移、 應變、表面缺陷和(hé)裂紋等多種測試。
二、知識點
散斑、雙光束幹涉、電子(zǐ)散斑、散斑幹涉、圖像相減、相位差計算、去(qù)噪、濾波、二值化、骨骼線、三維表面、壓電陶瓷特性
三、涉及課程
物理(lǐ)光學(xué)、光學(xué)信息預處理(lǐ)、信息光學(xué)、傅裏葉光學(xué)、光學(xué)測量、光電檢測、激光原理(lǐ)與技術
四、實驗內(nèi)容
1、 電子(zǐ)散斑幹涉原理(lǐ)實驗
2、 圖像預處理(lǐ)
3、 表面三維圖
4、 壓電陶瓷特性研究